您的位置：
激光橢圓偏振儀 庫號：M351615
簡(jiǎn)要描述：激光橢圓偏振儀 庫號：M351615實(shí)驗內容:●測量薄膜厚度。●測量介質(zhì)折射率。●驗證馬呂斯定律。●觀(guān)察了解光的偏振現象。
產(chǎn)品型號： ZXWJZ-II
所屬分類(lèi)：儀
更新時(shí)間：2025-02-08
廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
激光橢圓偏振儀 庫號：M351615激光橢圓偏振儀 庫號：M351615
實(shí)驗內容:
●測量薄膜厚度。
●測量介質(zhì)折射率。
●驗證馬呂斯定律。
●觀(guān)察了解光的偏振現象。
儀器特點(diǎn):
●以分光計為平臺，測量薄膜厚度。
●利用軟件進(jìn)行數據處理。
設備成套性:
●半導體激光器、數字檢流計、光電探頭、
待測樣品、起偏器、檢偏器、分光計
(選配)等。
主要技術(shù)指標:
測量透明薄膜厚度范圍0 - 300nm,
折射率1.30-2.49。
起偏器、檢偏器、1/4波片刻度范圍0* -360°，
游標讀數0.10。
測量精度: +2nm。
入射角ψ1=70° ，K9玻璃折射率n=1.515。
消光系數: 0,空氣折射率1。
●半導體激光器波長(cháng)λ = 635nm。
實(shí)驗內容:
●測量薄膜厚度。
●測量介質(zhì)折射率。
●驗證馬呂斯定律。
●觀(guān)察了解光的偏振現象。實(shí)驗內容:
●測量薄膜厚度。
●測量介質(zhì)折射率。
●驗證馬呂斯定律。
●觀(guān)察了解光的偏振現象。實(shí)驗內容:
●測量薄膜厚度。
●測量介質(zhì)折射率。
●驗證馬呂斯定律。
●觀(guān)察了解光的偏振現象。
實(shí)驗內容:
●測量薄膜厚度。
●測量介質(zhì)折射率。
●驗證馬呂斯定律。
●觀(guān)察了解光的偏振現象。實(shí)驗內容:
●測量薄膜厚度。
●測量介質(zhì)折射率。
●驗證馬呂斯定律。
●觀(guān)察了解光的偏振現象。
在線(xiàn)交流
咨詢(xún)電話(huà)